Умный поиск 


3_2011_s_9

Название статьи ОПРЕДЕЛЕНИЕ МОДУЛЯ УПРУГОСТИ НАНОПОКРЫТИЙ МЕТОДОМ АТОМНОСИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ
Авторы

Погоцкая И.В., инженер Института тепло- и массообмена им. А.В. Лыкова НАН Беларуси, г. Минск, Республика Беларусь,Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра."> Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.

Кузнецова Т.А., старший научный сотрудник Института тепло- и массообмена им. А.В. Лыкова НАН Беларуси, г. Минск, Республика Беларусь

Чижик С.А., член-корреспондент НАН Беларуси, доктор технических наук, профессор, главный ученый секретарь НАН Беларуси, г. Минск, Республика Беларусь
В рубрике ТЕХНОЛОГИЧЕСКАЯ МЕХАНИКА
Год 2011 номер журнала 3 Страницы 43-48
Тип статьи Научная статья Индекс УДК 539.2:530.145:538.971:621.385.833 Индекс ББК  
Аннотация В работе определен локальный модуль упругости однослойной, поливинилпиридин (ПВП), и двухслойной, полиметилметакрилат с нанесенным на него поливинилпиридином («ПММА+ПВП»), полимерных пленок нанометровой толщины (10–13 нм), сформированных на поверхности кремния методом Ленгмюр–Блоджетт. Эксперимент проводился с использованием метода атомно-силовой микроскопии в режиме статической силовой спектроскопии, позволяющем получать данные об изгибе консоли зонда при его контакте с поверхностью образца. Расчетные оценки проводились на базе математической модели контактного деформирования слоистых систем, учитывающей толщину покрытия и влияние подложки. На основании полученных данных об упругих свойствах тонких покрытий выдвинуто предположение о влиянии сверхтонкой прослойки полимера ПММА на механические свойства двухслойного покрытия вследствие экранирования силовых полей кремния, которые оказывают структурирующее воздействие на нанесенный слой.
Ключевые слова атомно-силовая микроскопия, пленки Ленгмюр–Блоджетт, модуль упругости
  Полный текст статьи Вам доступен
Список цитируемой литературы
  • Суслов, А.А. Сканирующие зондовые микроскопы / А.А. Суслов, С.А. Чижик // Материалы, технологии, инструменты. — 1997. — Т. 2, № 3. — С. 73–89.
  • Миронов, В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии / В.Л. Миронов. – Нижний Новгород: РАН Институт физики микроструктур, 2004. — 110 с.
  • Макушкин, А.П. Напряженно-деформируемое состояние упругого слоя при внедрении в него сферического индентора. 1. Определение контактного давления / А.П. Макушкин // Трение и износ. — 1990. — Т.11, № 3. — С. 423–434.
  • Блинов, Л.М. Ленгмюровские пленки / Л.М. Блинов // Успехи физических наук. – 1988. – Т. 155, № 3. — С. 443–480.
  • Айзикович, С.М. Контактные задачи теории упругости для неоднородных сред / С.М. Айзикович [и др.]. – М.: Физматлит, 2006. — 240 с.
  • Micromechanical properties of elastic polymeric materials as probed by scanning probe microscopy / S.A. Chizhik [et al.] // Langmuir. – 1998. – Vol.14, № 9. — pp. 3012–3015.
  • Surface Nanomechanical Properties of Polymer Nanocomposite Layers / V.V. Tsukruk [et al.] // Langmuir. – 2001. — Vol. 17. — pp. 6715–6719.
  • Силовая спектроскопия нанослоев полимеров на жесткой подложке / С.А. Чижик [и др.] // Материалы конференции БелСЗМ-4, г. Гомель, 24–25 окт. 2000 г. – С. 14–18.
  • Погоцкая, И.В. Оценка упругих свойств покрытий нанометровой толщины методом статической силовой спектроскопии / И.В. Погоцкая, С.М. Айзикович, С.А. Чижик // Трение и износ, 2010. — Т. 31, № 3. — С. 254–258.