Список цитируемой литературы |
- Springer Handbook of Nanotechnology: library of Congress Cataloging-in-Publication / Ed. by B. Bhushan. — Berlin: Springer-Verlad, 2004. — 1222 p.
- Головин, И.Ю. Введение в нанотехнику / И.Ю. Головин. — М.: Машиностроение, 2007.
- Елецкий, А.В. Механические свойства углеродных наноструктур и материалов на их основе / А.В. Елецкий // Успехи физических наук. — 2007. — Т. 117, № 3. — С. 233–274.
- Кравчук, А.С. Численное моделирование деформаций и разрушения на наноуровне / А.С. Кравчук, С.В. Карлышков // Вестник СамГУ. Естественнонауч. сер. — 2007. — № 4 (54). — С. 209–229.
- Панин, В.Е. Физическая мезомеханика и компьютерное конструирование материалов. — Новосибирск: Наука, СО РАН. — 1995. — Т. 1. — 297 с.; Т. 2. — 317 с.
- Свириденок, А.И. Механика дискретного фрикционного контакта / А.И. Свириденок, С.А. Чижик, М.И. Петроковец. — Минск: Навука i тэхнiка, 1990. — 272 с.
- Bhushan, B. Applied Scanning Probe Methods Springer / B. Bhushan, H. Fuchs, S. Hosaka. — 2002. — 475 p.
- Суслов, А.А. Сканирующие зондовые микроскопы / А.А. Суслов, С.А. Чижик // Материалы, технологии, инструменты. — 1997. — № 3. — С. 78–89.
- АСМ НТ-206 с функцией нанотомографии. Базовая конструкция прибора / С.А. Чижик [и др.] // Каталог приборов, комплексов и установок, разработанных по ГНТП «Приборы для научных исследований». — Минск, 2006. — С. 35–40.
- Binnig, G. Scanning tunneling microscopy / G. Binnig, H. Rohrer // Helvetica Physica Acta 55. — 1982. — 726 p.
- Binnig, G. Atomic force microscopy / G. Binnig, C.F. Quate, Ch. Gerber // Phys. Rev. Lett. 56 (9). — 1986. — P. 930–933.
- Ан, Х.-С. Атомно-силовая микроскопия поверхности трения TiN / Х.С. Ан, С.А. Чижик, А.М. Дубравин // Трение и износ. — 1999. — Т. 20. — № 6. — С. 1–10.
- Чижик, С.А. Анализ поверхностей твердых материалов с помощью изображений фазового контраста / С.А. Чижик, А.М. Дубравин, Х.С. Ан // Сканирующая зондовая микроскопия 2000. — Нижний Новгород, 2000. — С. 91–96.
- Shasholko, D.I. Joint analysis of topography and contrast SPM images with the software package SurfaceView / D.I. Shasholko, A.A. Suslov, S.A. Chizhik // Proc. Int. Workshop «Scanning Probe Microscopy — 2002», Nizhny Novgorod, March 3–6, 2002. — P. 252–254.
- Application of phase contrast imaging atomic force microscopy to tribofilms on DLC coatings / H.-S. Ahn [et al.] // Wear 249 (2001). — P. 617–625.
- Magonov, S.N. Phase imaging and stiffness in tapping-mode atomic force microscopy / S.N. Magonov, V. Elings, M.-H. Whangbo // Surf. Sci. Lett. — 375 (1997) L385.
- Tamayo, J. Effects of elastic interactions on phase contrast images in tapping-mode scanning force microscopy / J. Tamayo, R. Garc // Appl. Phys. Lett. — 72 (1997) 2394.
- Burnham, N. Measuring the nanomechanical properties and surface forces of materials using an atomic force microscope / N. Burnham, R.J. Colton // J.Vac. Sci. Technol. — A7 (1989) 2906-13.
|